原子力顯微鏡各種成像模式的原理.doc
約6頁DOC格式手機(jī)打開展開
原子力顯微鏡各種成像模式的原理,頁數(shù)6字?jǐn)?shù) 4287 摘要原子力顯微鏡的基本原理是：將一個(gè)對(duì)微弱力極敏感的微懸臂一端固定，另一端有一微小的針尖，針尖與樣品表面輕輕接觸，由于針尖尖端原子與樣品表面原子間存在極微弱的排斥力，通過在掃描時(shí)控制這種力的恒定，帶有針尖的微懸臂將對(duì)應(yīng)于針尖與樣品表面原子間作用力的等位面而在垂直于樣品...
內(nèi)容介紹
此文檔由會(huì)員 倫月 發(fā)布
原子力顯微鏡各種成像模式的原理
頁數(shù) 6 字?jǐn)?shù) 4287
摘要
原子力顯微鏡的基本原理是：將一個(gè)對(duì)微弱力極敏感的微懸臂一端固定，另一端有一微小的針尖，針尖與樣品表面輕輕接觸，由于針尖尖端原子與樣品表面原子間存在極微弱的排斥力，通過在掃描時(shí)控制這種力的恒定，帶有針尖的微懸臂將對(duì)應(yīng)于針尖與樣品表面原子間作用力的等位面而在垂直于樣品的表面方向起伏運(yùn)動(dòng)。利用光學(xué)檢測(cè)法或隧道電流檢測(cè)法，可測(cè)得微懸臂對(duì)應(yīng)于掃描各點(diǎn)的位置變化，從而可以獲得樣品表面形貌的信息。下面，我們以激光檢測(cè)原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope Employing Laser Beam Deflection for Force Detection, Laser-AFM）——掃描探針顯微鏡家族中最常用的一種為例，來詳細(xì)說明其工作原理。
參考文獻(xiàn)：
1、 D Courjon, C Bainier. Near Field Microscopy and Near Field Optics. Rep. Prog. Phys. 57 (1994) 989-1028.
2、張樹霖，《近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡及其應(yīng)用》，科學(xué)出版社，2000
3、朱星，“近場(chǎng)光學(xué)與近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡”，《北京大學(xué)學(xué)報(bào)》（自然科學(xué)版），第33卷，第3期，1997年5月
4、王佳， "近場(chǎng)掃描光學(xué)顯微鏡和光子掃描隧道顯微鏡" 《儀器儀表學(xué)報(bào)》Vol.17, No.5, P558-560, 1996
頁數(shù) 6 字?jǐn)?shù) 4287
摘要
原子力顯微鏡的基本原理是：將一個(gè)對(duì)微弱力極敏感的微懸臂一端固定，另一端有一微小的針尖，針尖與樣品表面輕輕接觸，由于針尖尖端原子與樣品表面原子間存在極微弱的排斥力，通過在掃描時(shí)控制這種力的恒定，帶有針尖的微懸臂將對(duì)應(yīng)于針尖與樣品表面原子間作用力的等位面而在垂直于樣品的表面方向起伏運(yùn)動(dòng)。利用光學(xué)檢測(cè)法或隧道電流檢測(cè)法，可測(cè)得微懸臂對(duì)應(yīng)于掃描各點(diǎn)的位置變化，從而可以獲得樣品表面形貌的信息。下面，我們以激光檢測(cè)原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope Employing Laser Beam Deflection for Force Detection, Laser-AFM）——掃描探針顯微鏡家族中最常用的一種為例，來詳細(xì)說明其工作原理。
參考文獻(xiàn)：
1、 D Courjon, C Bainier. Near Field Microscopy and Near Field Optics. Rep. Prog. Phys. 57 (1994) 989-1028.
2、張樹霖，《近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡及其應(yīng)用》，科學(xué)出版社，2000
3、朱星，“近場(chǎng)光學(xué)與近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡”，《北京大學(xué)學(xué)報(bào)》（自然科學(xué)版），第33卷，第3期，1997年5月
4、王佳， "近場(chǎng)掃描光學(xué)顯微鏡和光子掃描隧道顯微鏡" 《儀器儀表學(xué)報(bào)》Vol.17, No.5, P558-560, 1996
