硬盤(pán)測(cè)試軟件開(kāi)發(fā)的設(shè)計(jì)

本文共計(jì)41頁(yè)，21328字；

摘 要

硬盤(pán)作為計(jì)算機(jī)中存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的主要載體，其性能的好壞，直接決定著整個(gè)計(jì)算機(jī)系統(tǒng)性能的高低，因此有必要編寫(xiě)一個(gè)硬盤(pán)性能測(cè)試工具來(lái)測(cè)試其性能。

設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的硬盤(pán)測(cè)試軟件主要模擬硬盤(pán)實(shí)際I/O讀寫(xiě)情況，發(fā)出讀操作命令，然后統(tǒng)計(jì)、計(jì)算測(cè)試過(guò)程中的各個(gè)參數(shù)指標(biāo)值。測(cè)試的性能參數(shù)包括：瞬時(shí)、平均、最大數(shù)據(jù)傳速率，平均、最大讀操作響應(yīng)時(shí)間，讀操作次數(shù)，讀錯(cuò)誤次數(shù)及CPU占用率等。測(cè)試分為硬盤(pán)基本性能參數(shù)測(cè)試和一些典型應(yīng)用環(huán)境下的硬盤(pán)性能測(cè)試，測(cè)試結(jié)果可以保存到日志文件中。為了對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行更加全面地分析，硬盤(pán)測(cè)試軟件中還包括測(cè)試環(huán)境的軟硬件信息檢測(cè)功能。

硬盤(pán)測(cè)試軟件主要使用了VC中的多線程、定時(shí)器、對(duì)話(huà)框、菜單等技術(shù)來(lái)完成。主要功能有：硬盤(pán)基本性能參數(shù)的測(cè)試；典型應(yīng)用環(huán)境下的硬盤(pán)性能參數(shù)測(cè)試；測(cè)試環(huán)境軟硬件信息檢測(cè)；記錄測(cè)試結(jié)果的日志文件等。通過(guò)對(duì)測(cè)試結(jié)果的分析，發(fā)現(xiàn)在硬盤(pán)基本性能參數(shù)測(cè)試時(shí)，順序讀操作測(cè)試的硬盤(pán)瞬時(shí)數(shù)據(jù)傳輸率隨著讀操作數(shù)據(jù)塊的增加，先增大后減??；隨機(jī)讀操作比相應(yīng)數(shù)據(jù)塊大小的順序讀操作的數(shù)據(jù)傳輸率要小。模擬測(cè)試流媒體文件服務(wù)時(shí)，多用戶(hù)的總的數(shù)據(jù)傳輸率比單用戶(hù)時(shí)的數(shù)據(jù)傳輸率要小得多。





關(guān)鍵字：硬盤(pán)性能參數(shù),性能測(cè)試,多線程,事務(wù)處理環(huán)境輸入/輸出測(cè)試,
流媒體應(yīng)用輸入/輸出測(cè)試

Abstract

As Hard Disk is the main storage of a computer , its performance determines the whole computer system’s behave. So it is necessary to make a Hard Disk Detecting Program to test its performance.

The program simulates the actual I/O environments and gives off read instruction. Then the program begins to get and calculate caring parameters. These parameters include instantaneous transfer rate、average transfer rate、maximum transfer rate、average response time、maximum response time、read times、error counts and CPU utilization. The test is divided into hard disk basic information test and some typical application environments information test. The results can be reserved in a log file. And in this hard disk detecting tool, it can detect the test environment information to help evaluate the results.

目 錄
摘 要 I
ABSTRACT II
1 緒論 1
1.1 硬盤(pán)測(cè)試軟件開(kāi)發(fā)的目的和意義 1
1.2 現(xiàn)有硬盤(pán)評(píng)測(cè)軟件簡(jiǎn)介 1
1.3 本硬盤(pán)測(cè)試軟件的主要內(nèi)容 2
2 硬盤(pán)測(cè)試軟件方案設(shè)計(jì) 3
2.1 硬盤(pán)驅(qū)動(dòng)器簡(jiǎn)介 3
2.2 硬盤(pán)測(cè)試軟件方案選擇 7
2.3 硬盤(pán)基本性能測(cè)試模塊方案描述 8
2.4 典型應(yīng)用環(huán)境下硬盤(pán)性能測(cè)試模塊方案描述 9
2.5 測(cè)試環(huán)境軟硬件信息檢測(cè)模塊方案描述 9
2.6 記錄日志功能模塊方案描述 9
3 硬盤(pán)測(cè)試軟件各功能模塊實(shí)現(xiàn) 10
3.1 硬盤(pán)基本性能參數(shù)測(cè)試模塊 10
3.2 典型應(yīng)用環(huán)境下硬盤(pán)性能測(cè)試模塊 15
3.3 系統(tǒng)信息檢測(cè)模塊 16
3.4 記錄日志功能模塊 23
4 硬盤(pán)測(cè)試軟件的測(cè)試結(jié)果及分析 24
4.1 測(cè)試環(huán)境的軟硬件信息提取 24
4.2 硬盤(pán)基本性能參數(shù)測(cè)試結(jié)果及分析 25
4.3 典型應(yīng)用環(huán)境下的測(cè)試結(jié)果及分析 28
5 總結(jié) 33
5.1 本次畢業(yè)設(shè)計(jì)總結(jié) 33
5.2 后續(xù)工作展望 34
致 謝 35
參考文獻(xiàn) 36



部分參考文獻(xiàn)
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