ARM嵌入式處理器的調(diào)試技術(shù)
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摘要：針對(duì)32位ARM處理器開(kāi)發(fā)過(guò)程中調(diào)試技術(shù)的研究，分析了目前比較流行的基于JTAG的實(shí)時(shí)調(diào)試技術(shù)，介紹了正在發(fā)展的嵌入式調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)，并展望期趨勢(shì)。

關(guān)鍵詞：嵌入式 調(diào)試 處理器 JTAG Nexus ARM



隨著對(duì)高處理能力、實(shí)時(shí)多任務(wù)、網(wǎng)絡(luò)通信、超低功耗需求的增長(zhǎng)，傳統(tǒng)8位機(jī)已遠(yuǎn)遠(yuǎn)滿足不了新產(chǎn)品的要求，高端嵌入式處理器已經(jīng)進(jìn)入了國(guó)內(nèi)開(kāi)發(fā)人員的視野，并在國(guó)內(nèi)得到了普遍的重視和應(yīng)用。ARM內(nèi)核系列處理器是由英國(guó)ARM公司開(kāi)發(fā)授權(quán)給其他芯片生產(chǎn)商進(jìn)行生產(chǎn)的系統(tǒng)級(jí)芯片。目前在嵌入式32位處理器市場(chǎng)中已經(jīng)達(dá)到70%的份額。筆者在對(duì)三星公司的ARM7芯片技術(shù)調(diào)試的過(guò)程中，對(duì)這些高端嵌入式系統(tǒng)的調(diào)試技術(shù)進(jìn)行了總結(jié)。